|
Scanning elektron mikroskop (SEM) IFE fikk i 2004 installert et nytt scanning elektron mikroskop (SEM). Instrumentet er et Hitachi S4800, og det er et av de mest avanserte som finnes i Norge i dag. Det er et virkelig "nano"-instrument med en oppløsning som er spesifisert til 1nm (ved 15kV akselerasjonsspenning) som også kan gjøre alt en vanlig SEM kan. Kontaktpersoner for SEM: Trygve Furuseth tlf. 6380 62 69 / 4145 4186 trygve.furuseth@ife.no Marion Seiersten tlf. 6380 6267 / 4021 8065 marion.seiersten@ife.no
SEMen kan ta bilder i alle mulige modus; dvs både basert på topoprafi i prøver og på elementkontrast. Det kan også se gjennom tynne prøver og få bilder av hva som kan være inni (vi har en STEM detektor). Det har også et topp moderne elementanalyseutstyr. Med dette kan vi finne elementsammensetninger i punkter og kartlegge store områder. Analyseutstyret er av typen Noran System Six. Vi har mange forskjellige prøveholdere slik at prøvegeometrien er fleksibel. Flate prøver kan være opp til 15x15 cm. Standard prøveholderne er for prøver som er 12.5, 25 eller 30 mm i diameter og maksimum 30 mm høye. Ellers kan vi tilpasse det meste innenfor dimensjonene 15x15 cm i flate og maks. 3,5 cm høyde.
SEMen er tilgjengelig både for eksterne og interne oppdrag. Mer info: Spesifikasjoner SEM Tverrsnitt av en korrosjonsprøve eksponert i omgivelser som er typiske for gass/kondensatorørledninger der gassen inneholder CO2 og H2S. På bildene ser man stålet nederst med korrosjonsprodukter oppå. Bildet til venstre viser elementkontrast. I bildet til høyre er elementkart lagt over det samme bildet slik at det viser sammensetningen av stål og korrosjonsprodukter. Røde og rosa områder er ukorrodert jern, blå og rød-blåe er jernkarbonat og -oksid, gule og oransje er jernsulfid. |
Fagområde
Avdeling
|

